OmniScan X3 Series

L'OmniScan X3 combina una struttura robusta e portatile con prestazioni avanzate, offrendo funzionalità di focalizzazione ad alta potenza. La versione OmniScan X3 64 amplia ulteriormente le capacità grazie a un maggior numero di aperture di elementi, permettendo di sfruttare appieno le sonde phased array a 64 elementi e la tecnologia TFM con aperture da 128 elementi. Grazie a queste prestazioni ottimizzate, è possibile eseguire ispezioni complesse su materiali di elevato spessore o attenuazione, ampliando le possibilità di sviluppo di nuove procedure di controllo per una gamma più vasta di applicazioni.

Il rilevatore di difetti OmniScan X3 è uno strumento phased array completo, progettato per garantire ispezioni affidabili e precise. L'integrazione di funzionalità avanzate, come l'imaging del Metodo a focalizzazione totale (TFM) e la visualizzazione avanzata, assicura un'elevata qualità dell'immagine, consentendo di completare ogni ispezione con una maggiore sicurezza e precisione.

Lo strumento di Mappatura dell'influenza acustica (AIM) offre un modello visivo immediato della sensibilità del fascio, basato sulla modalità selezionata, sulla configurazione e sul riflettore simulato. Grazie all'AIM, è possibile eliminare l'elemento soggettivo nella creazione del piano di scansione, visualizzando in tempo reale l'effetto delle onde in modalità TFM. Questo permette di identificare i limiti di sensibilità e di regolare il piano di scansione in modo ottimale, migliorando l'affidabilità e l'efficacia delle ispezioni.